Метрологично приложение за ZEISS Xradia Versa Откриване на най- малките размери. Най-точното им измерване. Интегрирането на компоненти с все по-малки размери увеличава необходимостта от метрология с висока резолюция. ZEISS представя една напълно нова област от безразрушителни методи за изследване на субмикронни детайли с рентгеновите микроскопи Xradia Versa. Сега, с допълнението за метрология [...]
Оценката на качеството е важен процес в автомобилостроенето. Контролът на качеството дава сигурност, че клиентите получават продукт, който задоволява техните нужди и не дава дефекти. Ако гаранцията за качеството не е подкрепена от подходящи мерки за контрол на качеството или мерките са недостатъчни и грешни, това поставя потребителите в потенциален риск. Производителите са под постоянен [...]
Научете как с оптимизирани и автоматизирани методи могат да се получават бързи и надеждни резултати при изследване на повърхностно закалени рейки за автомобилни кормилни механизми. Рейка за автомобилен кормилен механизъм Оценката на качеството е важен процес в автомобилостроенето. Контролът на качеството дава сигурност, че клиентите получават продукт, който задоволява техните нужди и не [...]
Научете как да използвате най-новите материалографски подготвителни техники за изследване на плазмено нанесени покрития за необходимата за използването им плътност. Плазмени покрития Оценката на качеството е критичен процес в много клонове на промишлеността. Контролът на качеството гарантира, че потребителите получават продукти, които отговарят на техните изисквания и нямат дефекти. Производителите [...]
Сканиращият електронен микроскоп (SEM) е центъра на всяко микроскопско оборудване при изследвания както в промишлеността, така и при академични или рутинни изследвания на качеството. Изключително високата резолюция, комбинирана с голяма дълбочина на полето и локалното определяне на химическия състав, предпоставя използването на микроскопите SEM като гъвкави инструменти, подходящи за подробни изследвания на почти всякакви [...]
ZEISS ZEN core неметални включвания Неметалните включвания (NMI) присъстват във всички видове стомани в по-големи или по-малки количества и могат да бъдат разпределени в две категории. Естествените включвания са присъщи на самия метал, като продукт от химическите реакции в стопилката. Тези реакции могат да бъдат с легиращите елементи, с газообразни продукти или [...]
Подобряване изследването на материалите, информацията за свойствата им и достоверността на данните Автор: Dirk van derWal Carl Zeiss Microscopy GmbH, Germany Дата: Януари 2017 Методите светлинна микроскопия (LM) и сканираща електрона микроскопия (SEM) са утвърдени техники за изследване и характеризиране на образци при промишлено определяне на качеството (QA) [...]
Вашият комплект методи за характеризиране на металите ZEN core: Пълен интуитивен комплект металографски методи за бързо получаване на прецизни резултати в софтуерна среда на много потребители Оценяване на структурни елементи Сегментиране на фази Количествено определяне на зърна Анализиране на [...]
Ден на металографията - 12 април 2019 - ПОКАНА Микроструктурата на материалите до голяма степен определя свойства като якост и устойчивост на корозия. Детайлното проучване на микроструктурата на материалите е от голямо значение. Уважаеми дами и господа, Уважаеми клиенти и партньори, Сърдечно Ви каним на [...]
Автори: Jörg Maier, Gaby Ketzer-Raichle, Dr. Lisa Weissmayer, Dr. Timo Bernthaler, Prof. Gerhard Schneider Институт за изследване на материалите към Университета в Аален Заваряването е осъществяване на неразглобяема връзка между компонентите чрез прилагане на топлина и/или налягане, с използване на допълнителeн или запълващ метал [1, 2]. Освен изискването за високо качество на заваръчния шев, [...]
Автор: Dr. Roger Barnett, Carl Zeiss Microscopy GmbH, Germany Дата: Януари 2018 Заваряването е широко използван метод в много клонове на индустрията – космическа, нефт и газ, автомобилна, медицина, потребителски стоки и строителство. Приложението на заваряването се простира от изработването на масивни конструкции и сгради до микроскопични шевове при производството на електронни елементи. Необходим [...]
C-DIC(Кръгов диференциаленинтерферентен контраст)вотразена светлина Автор: Том Калахан Carl Zeiss Microscopy LLC USA Конвенционалният диференциален интерферентен контраст (DIC), или понякога наричан контраст по Номарски, е известен от много години в микроскопията с отразена светлина. С тази контрастираща техника се постига високо чувствително релефно изображение (Фиг. 1b) на топографията на повърхността на образеца в нанометричен [...]
