ZEISS Axio Imager за микроскопия в поляризирана светлина

Поляризационен микроскоп ZEISS Axio Imager

поискай конфигурация

Вашият микроскоп за научно-изследователска работа

Достъпни и опростени процедури, надеждна работа
Вие търсите микроскоп за надеждно изпълнение на комплексни задачи, получаване на резултати с високо качество и лесен за използване?
В такъв случай, интелигентният Axio Imager за микроскопия в поляризирана светлина е правилният избор за Вас.

Категория: Етикет:

Описание

Достъпни са различни изпълнения на микроскопския статива

Имате избор между кодирана, частично моторизирана или напълно моторизирана версия за адаптиране на вашия микроскоп според индивидуалните ви изисквания.

Предимства

Сигурност благодарение на автоматичното идентифициране на компонентите

Винаги можете де разчитате на настройките на микроскопа благодарение на автоматичното разпознаване на компонентите ACR.
Всички моторизирани стативи разпознават автоматично обективите. При напълно моторизираните Axio Imager Z-стативи, ACR допълнително идентифицира рефлекторните модули за контрастни техники. Смяната на компонентите, интензитета на светлината се регистрира автоматично от микроскопа и софтуера, като по това позволява и създаването на автоматизирани работни програми.

Надеждни дългосрочни изследвания благодарение на конструкцията без вибрации

При зависещи от времетраенето изследвания и големи увеличения можете да разчитате на стабилността на Axio Imager. Револверната глава, z-водачът и масичката са конструирани като компактен елемент без вибрации, изолиран от останалата част на корпуса. Тази „стабилна клетка“ създава идеални условия за изследвания и получаване на отлични резултати.

Комфортни условия за работа като следствие от широката функционалност

  • Опростява комплексните процедури. Контролът на всички моторизирани компоненти е на върха на пръстите ви чрез използване на touch-екрана на корпуса или на Docking Station.
  • Записване на индивидуалните настройки и намиратето им отново без усилие чрез натискане на бутон. Интуитивно задействане на фокусирането благодарение на ергономично разположените контролни бутони с тактилни повърхности.
  • Алтернативно задействане на микроскопската система за поляризирана светлина чрез свободно позициониращия се контролен панел, напълно отделен от корпуса. Мениджърът на контраста и светлината автоматично избира оптималните настройки с оглед получаването на възпроизводими и надеждни резултати.

Методи

Коноскопия: Бърз и надежден анализ на кристала с помощта на микроскопия в поляризирана светлина

Получаване на едновременна информация от ортоскопски и коноскопски образ чрез микроскопия с поляризирана светлина. Със специално конструирания Pol фототубус, обектив, кръстосани нишки и ирисова диафрагма тези образи се виждат едновременно, благодарение на допълнителна междинна равнина на изображението. Благодарение на регулиращата се ирисова диафрагма това е възможно също за граници на коноскопския образ до минимален размер на кристала от 10 µm. Предварително центрованата Bertrand оптика може направо да се включва и изключва. Това позволява да превключвате бързо между отделните техники – дори когато търсите изображения или използвате видео.

Постоянен процес на измерване

Достъпни измервания чрез използване на въртяща се с помощта на лагери масичка с 360° скала и 0.1° нониус (напр. за измерване на ъгли на разцепване при минерали)
Определяне на разлики в оптичните траектории или измерване на деформации.

Компенсатори с фиксирана разлика в оптичните траектории

  • Пластинка с една дължина на вълната λ
  • Пластинка с една четвърт дължина на вълната λ / 4
  • Пластинка с една дължина на вълната λ, въртяща се на +/- 8°

Достъпен е широк интервал компенсатори , които покриват обхват на измерване от 0 до 30 λ.

Компенсатори с променлива разлика в оптичните траектории

  • Клинообразен компенсатор 0-4 λ
  • Измервателни компенсатори
    – Berek наклонен компенсатор 0-5 λ
    – Berek наклонен компенсатор 0-30 λ

Axio Imager може да се използва за много други методи, като например

  • Термомикроскопия
  • Дигитален анализ със софтуер на Zeiss AxioVision (напр. определяне едрината на зърната или анализ на частици)