Ден на металографията – 12 април 2019 – ПОКАНА
Микроструктурата на материалите до голяма степен определя свойства като якост и устойчивост на корозия.
Детайлното проучване на микроструктурата на материалите е от голямо значение.
Уважаеми дами и господа,
Уважаеми клиенти и партньори,
Сърдечно Ви каним на семинара „Ден на металографията 2019“ в Интер Експо Център, София.
За съдържателен микрографски анализ е необходима правилна подготовка на пробите и тук опитът и иновациите на Struers могат да Ви помогнат да постигнете оптимални резултати.
Като световен лидер в микроскопията, ZEISS предлага цялостни решения за индустриален качествен контрол и за изследване на материали. Ще Ви покажем кои опции работят добре в различните сектори.
Преминете през пълен работен поток с нас: от подготовката на пробата до анализа.
Очакваме с нетърпение един стимулиращ ден с Вас!
Сърдечно ваши,
Антон Тончев Регионален мениджър Карл Цайс България
Христо Иванов Управител С.Е.М. Технолъджийс
За да бъде разпозната структура при микроскопски анализ, пробата трябва да бъде подготвена правилно.
За да изберем подходяща техника за пробоподготовка, трябва да се познават свойствата на материала.
Програма
Програма
| 09.45 | Регистрация |
| 10.00 – 10.10 | Поздрав |
| 10.10 – 10.30 | Лекция // ZEISS , инж. А. Тончев |
| 10.30 – 11.00 | Лекция // Struers , Х. Столпе |
| 11.00 – 11.20 | Кафе пауза |
| 11.20 – 11.40 | Лекция // ZEISS , инж. Р. Нирнбергер |
| 11.40 – 12.00 | Лекция // Struers , Х. Столпе |
| 12.00 – 13.00 | Обяд |
| 13.00 – 13.30 | Споделено от клиента |
| 13.30 – 15.30 | Практическа демонстрация |
| 15.30 | Закриване |
Дигитален микроскоп Smartzoom 5
Автоматична режеща машина Accutom-100
Кратко описание на семинара
Сесия „Пробоподготовка“:
Сесия „Пробоподготовка“:
Процедури за подготовка на металографска проба (Al, Cu, Fe, сплави)
Изисквания към различните материали от автомобилна индустрия и електроника
Сесия „Визуализация и Анализ“:
- Професионално заснемане на изображения с микроскоп
- Измервания с помощта на оптичен микроскоп
- Анализ на изображенията (дебелина на слоя, размери на зърната, микроструктурен анализ, включения, степен на чистота и др.)
Електронна микроскопия и анализ на елементите (EDX)
Корелативни методи в светлинната микроскопия
Моторизиран метелографски микроскоп Axio Scope 7
Електролитно полиране LectroPol-5
Допълнителна информация
| Дата | Петък, 12.04.2019 |
| Регистрация | Регистрацията е задължителна.Моля, регистрирайте се с формата на сайта |
| Такса | Семинарът е безплатен, с включен обяд и напитки |
| Локация | Зала “Панорама“ Интер Експо Център , ет. 7 София, бул. „Цариградско шосе“ 147 |
| Транспорт | Автомобил – всички посетители на семинара могат да използват срещу заплащане буферния паркинг на метростанция „Интер Експо Център – Цариградско шосе“ Метро, линия 1, спирка „Интер Експо Център – Цариградско шосе“ Автобуси с номера 1, 3, 5 и 6 Маршрутно такси 37 |
Форма за регистрация в семинара
Организатори на семинара
Карл Цайс България 1606 София
ул. „Св. Иван Рилски“ 42 тел. (02) 951 59 71
[email protected]
С.Е.М. Технолъджийс 1756 София
ж.к. „Дървеница“, бл. 46 тел. (0878) 113 961
[email protected]