тел: +359 878 113 961 | [email protected]

ZEISS Axio Imager за микроскопия в поляризирана светлина

Сканиращи електронни микроскопи

поискай конфигурация

Модулна SEM платформа за интуитивни операции, рутинни изследвания и изследователски приложения

При изследване на качеството в индустрията, анализ на причините за разрушаване, или изследване на околната среда, сканиращият електронен микроскоп е първи избор за приложения в областта на металографски анализ и анализ на причините за разрушаване. Това се обуславя от възможността за осигуряване както на висока резолюция на изображението, така и на висока пространствена резолюция при анализ на химичен състав на материала.

Категория: Етикет:

Описание

БРОШУРА | ПРЕДИМСТВА | ГЪВКАВОСТ | ХАРАКТЕРИСТИКИ

Разчитайте на ZEISS EVO като на най-качествения сканиращ електронен микроскоп за индустриални лаборатории за QA и FA анализи.

Конструиран специално за рутинна инспекция и индустриални приложения, ZEISS EVO е универсален инструмент, които се управлява от интуитивен софтуер, които е подходящ както и за изследователи с опит в микроскопията, така и за инженери от производство и качествен контрол, които не са SEM експерти. ZEISS EVO осигурява получаването на най-добрите в своя клас висококачествени резултати, особено за непроводящи детайли, които не могат да бъдат покрити с проводящ слой, поради изискванията за следваща инспекция.

Благодарение на развитието на съвременната детекторна технология, се предлага и отлична технология за получаване на изображение при работа във висок вакуум (HV), променливо налягане (VP) и високо „повишено“ налягане (EP). Повишаването на качеството на изображението се постига и със значително подобряване на коефициента на контраст.

EVO е гъвкав, лесен за употреба уред за анализ с висок контраст на изображението, който осигурява получаване на бързи, точни, повторяеми резултати при всички образци.

ZEISS EVO: Водещ в своя клас по света и подходящ както за експерти, така и за начинаещи

EVO е подходящ за всички потребители поради използването на два потребителски интерфейса: SmartSEM Touch и SmartSEM. SmartSEM Touch, който може да се задейства от touch-екран, дава възможност за интерактивен контрол на работния процес директно с вашите пръсти. Той е бърз, лесен за научаване и значително намалява усилията и разноските за обучение. Дори начинаещи потребители започват да получават прекрасни изображения за минути. Този потребителски интерфейс е подходящ също за оператори в индустрията, които изискват автоматичен работен процес за извършване на многократна инспекция. Потребителите експерти на EVO ще намерят цялата функционалност, от която се нуждаят, за получаване на качествено изображение чрез използването на потребителския интерфейс SmartSEM, който е включен директно в компютъра на уреда.

Приложения

Космическа & Автомобилна индустрия

Рутинен анализ на произвежданите компоненти за проверка на изискваните качество и дълготрайност.

Чистота на производството

Проверка на чистотата на произвежданите компоненти. Автоматичен анализ на частици и идентифициране на морфологията, както и химически анализ, съгласно стандарт ISO 16232.

Метали & Стомани

Получаване и анализ на изображението на структурата на металите, изследване на разрушаване и неметални включвания.

Необработени материали

Морфология, минералогия и анализ на състава на геоложки образци.

Материалознание

Анализ на образци от проводящи и непроводящи материали за научно-изследователски цели.

Анализи за съдебни цели (Forensic)

Получаване и анализ на изображението на материали от местопрестъпления, включително остатъци от употреба на огнестрелни оръжия (GSR), анализ на бои и стъкла, банкноти и монети, фалшификации, сравнение на косми и влакна, както и съдебна токсикология.

Естествени науки

Изследване на растения, животни и микроорганизми.

Полупроводници & Електроника

Визуална инспекция на електронни компоненти, интегрални схеми, MEMS уреди и слънчеви клетки.

Химически изследвания

Анализ на морфологията и състава на химически суровини и активни съставки през време на процеси на микронизация и гранулация.

Разширяване на възможностите

Мощен индустриален сканиращ електронен микроскоп

  • Увеличение: < 5 – 1,000,000×
  • Обхват налягания: 10 – 3000 Pa
  • Разделителна способност: до 2 nm
  • До 11 канала за аналитични детектори

Гъвкава конструкция на камерата

Избор между три размера на камерите (10, 15 & 25) и две масички (Z = 50 mm или Z = 80 mm) позволява да се избере оптималното решение за вашите нужди. Изборът между три размера вакуумни камери дава възможност да се избере тази, която най-добре ще отговаря на вашите изисквания за получаване и анализ на изображението, в зависимост от това дали работите с малки компоненти или с много големи детайли и възли.

Издигнете вашите изследвания на по-високо ниво

Морфология на повърхността с висока резолюция

Получаване на изображение с вторични електрони (SE) – с максимална резолюция от няколко нанометра – удобно покрива по-голяма част от дължината на субмикронна скала.

Изображение на съставните елементи

Изображение с отразени електрони (BSE) повишава контраста, който е директно пропорционален на плътността на елементите, от които са съставени изследваните детайли.

Анализ на елементите с висока пространствена резолюция

При енергийно дисперсионната спектроскопия (EDS), X-лъчите, получени от взаимодействието на фино фокусирания електронен лъч с изследвания детайл, дават възможност да се определи състава на повърхността.

Автоматично интелигентно изображение

Автоматичното интелигентно изображение е мощен и лесен за използване софтуерен продукт, който осигурява автоматично получаване на образи от партиди образци без да е необходимо присъствие на оператор.

ZEISS SmartBrowse

Използвайте SmartBrowse, вашето контекстуално средство за изпращане на изображения , за представяне на изображения, получени с многобройни детектори при различни увеличения в едно единствено интерактивно изображение.

Избор на микроскоп според вашите образци

Можете да изберете стандартна (високо) вакуумна конфигурация за метални и други проводящи материали, или да прибавите по желание вариант за различни налягания (VP) за изображения и анализ на непроводящи материали, без покритие или подготовка, която може да повлияе на процеса на вашия мулти модален QA или FA анализ.

Специални софтуерни продукти

ZEISS Atlas 5

Atlas 5 превръща EVO в решение за бързо автоматично картографиране на големи площи.

Корелативна микроскопия с Shuttle & Find

Софтуерният модул Shuttle & Find дава възможност за лесно сравняване на данни от вашия светлинен микроскоп и сканиращия електронен микроскоп. Получаването на мулти модалните данни е вече реалност за някои или в близко бъдеще за други индустриални изследвания на QA и FA. Във всеки случай, EVO е готов за интегриране в корелативната микроскопия и анализи. За някои регулирани индустрии, като фармацевтичната или космическата, всеки уред EVO е GxP пригоден чрез GxP модул в ZEN 2 .

Автоматичен анализ на частици & Промишлена чистота

Анализът на частици с помощта на ZEISS автоматизира работния процес и повишава възпроизводимостта на резултатите чрез определяне чистотата на производството и прогнозиране на износоустойчивостта на стоманени детайли и опазването на околната среда.

ZEISS SmartPI

SmartPI на ZEISS е автоматичен, съобразен със стандартите, SEM анализ на частици, който за разлика от анализите , извършвани със светлинна микроскопия , дава възможност за класифициране на частиците въз основа на техния химически състав. Данните от SmartPI улесняват инженерите при оценка на връзката на чистотата с източника на замърсяване. SmartPI е включен в EVO като ключов фактор за определяне на промишлената чистота с пълната подкрепа на ZEISS.

Автоматизирана минералогия

Минералогията на ZEISS комбинира съвременен минералогичен анализ с набор от устройства със специфично приложение към EVO, като по този начин ви дава възможност за характеризиране и количествено определяне със субмикронна точност дори и на най- сложните геоложки образци.

Нефт & Газ

Използвайте вашия Минералогичен източник като част от вашата дигитална петрофизика на скали, за да получите по-задълбочени познания.

Минно дело

Минната минералогия дава възможност за количествена минералогия в геометалургията, оптимизиране на обработката на минералите и характеризиране на рудата.

Индустрия 4.0 & сигурност на данните с GxP модул

  • Свързаност на софтуера с останалите микроскопи и GxP функционалност на софтуера за фармацевтични и други контролирани производства.
  • Според изискванията на FDA CFR 21 Part 11

Гъвкав избор на компоненти

Уникалната „Future Assured“ (“Гаранция за бъдещето”) философия на EVO дава възможност развитието на вашия микроскоп да следва вашите приложения. EVO може да бъде допълнен с държачи на образци, нови детектори, допълнителни софтуерни опции или дори ъпгрейдване на вакуумната система до пълните възможности на околната среда.

Свързани продукти

За да направим посещенията ви на нашата уебстраница възможно най-функционални, използваме „бисквитки“. Повече информация